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武汉光电国家研究中心师生参加欧洲设计、自动化及测试会议

来源:武汉光电国家研究中心    作者:    发布时间:2019年04月12日    浏览:206次

   2019年3月,由欧洲设计与自动化协会举办的“欧洲设计,自动化及测试会议”在意大利佛罗伦萨举办。华中科技大学武汉光电国家研究中心的谢长生、吴非老师和博士生覃鸿巍,江天明,汤陈蕾,刘伟华参加了此次会议。

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  会议主要包括D,A,T,E四个部分,分别着眼于设计理论与工具、应用设计、测试与辅助、嵌入式与信息物联系统四大方面展开。此外,会议还包括有Tutorials,博士生论坛,workshops等环节,用于加强计算机领域从业人员之间的交流。会议还设置有展览,来自世界各地的公司、企业纷纷在展览区域展示自己最新的研究成果,并回答参观人员的提问。

通过进行学术报告以及海报的方式,四名博士生展示了自己最新的研究工作,并与行业人员进行了学术交流。

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  3月26日下午,博士生刘伟华在测试与可靠性分会场做题目为Characterizing the Reliability and Threshold Voltage Shifting of 3D Charge Trap NAND Flash的报告,并在墙报做研究工作的展示。报告的墙报吸引了大量相关学者的关注。

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  3月28日上午,博士生汤陈蕾在分会场SSD和数据放置做题目为RAFS: A Raid-Aware File System to Reduce the Parity Update Overhead for SSD RAID的报告,并在报告后的问答环节与听众进行了互动。报告受到了一些学者的肯定。

  3月28日上午,博士生江天明在分会场自适应资源管理做题目为Scrub Unleveling: Achieving High Data Reliability at Low Scrubbing Cost的口头报告,报告得到了一些学者的关注,并在问答环节与现场学者进行了交流,该研究成果得到了学者的肯定。

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  会议每天早上8:30开始,下午18:30结束。会议开始前或结束后可以在佛罗伦萨城市里逛逛。整个城市面积大概只有三个华科校园大小,步行就可以感受欣赏到浓厚的艺术气息。

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晚霞中的阿诺河 佛罗伦萨